对于拆分后的检测单元(试样)进行非破坏性XRF筛选。
筛选检测可用能量散射X射线荧光光谱法(ED-XRF)或波长散射X射线荧光光谱法(WD-XRF)对试样中目标物进行测试,可以是直接测量样品(不破坏样品),也可以是破坏样品使其达到“均匀材料”(机械破坏制样)后测试。
很多有代表性的均匀材料(如塑料、合金、玻璃等)样品可以不破坏样品直接进行筛选,而由多种材料组成的复杂样品(如组装印制电路板)则需进行机械破坏性样品制备。
机械破坏性样品制备既适用于筛选也适用于精确检测方法。
筛选是RoHS检测的重要组成部分,是一种快速甄别方法。生产者和执行机构都可以使用筛选工具实施筛选检测。该方法能无损制备试样,几分钟就能检测出结果,因简单易行、成本较低而被广泛采用。
但是筛选有局限性,有时还需要做进―步的精细检测才能得出最终结果。
1.筛选的局限性
(1)检测精度相对较低,检测结果只能给出一个定性的结论,如“合格"、“不合格"。目前,ED-XRF的最高水平能达到几个ppm以下,与精细分析的水平相当接近,但大多数情况下在几十ppm(10-6)以下。当然,某些时候,能给出定性结论已经够了,但有些时候还嫌不足。举例来说,对于豁免和非豁免物质在一起的部位中的有害物质,筛选就无法证明其符合还是不符合RoHS要求。
(2)只能检测元素含量,不能检测化合物。像多溴联苯和多溴二苯醚筛选就不能直接得出结论,只能间接地从溴化合物中澳元素的特征数据进行评估。
(3)局限性还表现在六价铬的检测上,同样是铬元素,但确定不了价态。
(4)某些ED-XRF仪器本身的硬件和软件缺陷可能会出现这样的结果:即使是正确操作仪器也可能会得到错误的结论。这是因为该仪器固有荧光谱线和被测物的目标元素谱线相重叠,而难以区分。
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